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超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-2D 對對象物（※1）照射高亮度的光的話會發生振打現象，表面的傷和垃圾，內部的異物和氣泡用目視能容易地確認。 ※1：半導體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等！

垃圾坑點火監控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C 對對象物（※1）照射高亮度的光的話會發生振打現象，表面的傷和垃圾，內部的異物和氣泡用目視能容易地確認。 ※1：半導體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等！

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光學系統結構和計算方法，能夠獲得高度線性的測量結果，而不受色彩的影響。 ■散射光直接檢測方式 　　15°前向散射光直接檢測方式，減少了樣品粒徑測量值的影響。 日本表面檢查燈小王子紅外線近紅外鹵素光源

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