Cassification
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 光學板光源YAMADA粒子光源YP-250ID裝置現貨
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150I/YP-250ID雙光源裝置YAMADA山田
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA高亮度熒光光源YP-150ID · YP-250ID
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現貨
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田高亮度鐵光源裝置YP-150ID現貨
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150ID/YP-250ID現貨YAMADA山田粒子光源
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-250ID高亮度YAMADA山田粒子光源裝置現貨
2024-11-23
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YP-150ID YAMADA山田光學高亮度電子鏡200V
2024-11-23
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